CEI EN 60191-6-19 PDF

Questa norma fa parte della serie 60191 che si occupa della Normalizzazione meccanica dei dispositivi a semiconduttore.
In particolare in questa vengono descritti metodi di misura per rilevare lo svergolamento che si verifica ad alta temperatura per prodotti, unità ed assiemi e per misurare gli svergolamenti massimi consentiti per sistemi BGA, FBGA e FLGA.
I metodi di misura usati sono :
- shadow moirè method
- laser reflection method
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC.
ATTENZIONE: La Norma contiene immagini e testo che, per una migliore lettura del contenuto, richiedono la stampa a colori.