Name:
CEI EN 60749-23/A1 PDF
Published Date:
01/01/2012
Status:
[ Active ]
Publisher:
Comitato Elettrotecnico Italiano
La presente Variante modifica la Norma CEI EN 60749-23:2006-01 relativa ai metodi di prova inerenti la valutazione della durata della vita utile in funzionamento ad alte temperature per i dispositivi a semiconduttore.
Si tratta di due modifiche editoriali che rendono più chiaro il Cap. 7 Misure e che corregono un riferimento errato nel Cap.9 Sommario al punto f.
Questa Variante viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC.
| Edition : | 06 |
| File Size : | 1 file , 730 KB |
| Number of Pages : | 8 |
| Published : | 01/01/2012 |