CEI EN 60749-27 PDF

La presente Norma fa parte della serie IEC/CLC 60749 e si occupa di prove per valutare la sensibilità dei dispositivi a semiconduttori alle scariche elettrostatiche.
In particolare essa definisce una procedura standard per provare e classificare i dispositivi a semiconduttore in base alla loro predisposizione a rimanere danneggiati o subire una riduzione delle prestazioni quando subiscono scariche elettrostatiche (ESD) da un definito modello della macchina (MM).
L’obiettivo è quello di fornire classificazioni accurate mediante prove con risultati affidabili e ripetibili.
Il metodo di prova proposto in questa norma è di tipo distruttivo
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.