CEI EN 60749-38 PDF

La presente Norma fa parte della serie EN/IEC 60749 riguardante i metodi di prova climatici e meccanici per i dispositivi a semiconduttore e si occupa dei metodi di prova degli errori relativi al software che si possono verificare nei dispositivi a semiconduttore con memoria.
Specificatamente la Norma descrive una procedura per misurare la capacità dei dispositivi a semiconduttore di mantenimento dei dati memorizzati quando sottoposti a radiazione di particelle di energia come le particelle alfa.
Vengono proposte due prove:
- Prova accelerata con utilizzo di una sorgente di radiazioni alfa.
- Prova in tempo reale in cui vengono generati diversi tipi di errori a seguito di radiazioni naturali (alfa, neutroni, ecc.)
Per una caratterizzazione completa delle possibilità di errore i dispositivi devono essere sottoposti ad un ampio spettro di radiazioni ad alta energia ed a neutroni termici usando altri metodi.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC.