Name:
CEI EN 60749-8 PDF
Published Date:
11/01/2004
Status:
[ Active ]
Publisher:
Comitato Elettrotecnico Italiano
La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 e si applica ai dispositivi a semiconduttore ( dispositivi singoli e circuiti integrati).
Scopo della norma è quello di descrivere diversi metodi di prova per valutare il tasso di dispersione (perdita) dei dispositivi a semiconduttore.
La presente Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua originale inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.
| Edition : | 1 |
| File Size : | 1 file , 470 KB |
| Number of Pages : | 26 |
| Published : | 11/01/2004 |
