CEI EN 60749-9 PDF

La presente Norma internazionale fa parte della serie IEC 60749 ed ha lo scopo di verificare il grado di permanenza nel tempo delle marcature apposte sui dispositivi a semiconduttore.
La prova valuta quindi che le marcature non diventino illeggibili a causa dell'attacco di vari agenti quali solventi o soluzioni detergenti comunemente usate per la rimozione dei residui di flussante dalle schede dei circuiti stampati nei processi di assemblaggio.
Il metodo di prova è applicabile a tutti i tipi di confezione ed è adatto nelle fasi di qualificazione e monitoraggio.
La prova è di tipo non distruttivo e può essere effettuata su componenti scartati per motivi elettrici o meccanici.
In generale la prova di permanenza delle marcature è conforme alla IEC 60068-2-45, ma a causa di esigenze specifiche dei semiconduttori si applica la Norma presente.
La Norma non si applica ai dispositivi marcati a Laser.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese, a causa della limitata utilizzazione, particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.
La presente Norma sostituisce in parte la CEI EN 60749:2000-10 (CEI 47-12)
fasc. 5845E.