CEI EN 61788-10 PDF

La presente Norma fornisce le specifiche del metodo di prova resistivo per la misura della temperatura critica di superconduttori compositi ad uso industriale, nei quali tale metodo è largamente applicato per le sue caratteristiche di semplicità ed affidabilità,
Nei casi di materiali non omogenei o in forma di film spessi, film sottili, di polveri o di grandi volumi, per i quali l’applicazione del metodo resistivo è difficile, è opportuno ricorrere ad altri metodi di misura più adatti alle caratteristiche del materiale.
Il presente documento, rispetto alla precedente edizione, di cui costituisce revisione tecnica, contiene tra le altre le seguenti principali modifiche:
- estensione del campo di applicazione ad altri superconduttori compositi quali ad es. Cu/Nb3Al e MgB2 con rivestimento metallico;
- dimensioni del piatto di base;
- definizione della tensione di curvatura.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC e pertanto consta delle sole pagine dispari.