CEI EN 62416 PDF

Questa Norma descrive la prova per gli elettroni (portatori) caldi a livello di wafer sui transistors NMOS e PMOS.
La prova ha lo scopo di determinare se i singoli transistors sono conformi alla durata di vita richiesta dagli elettroni caldi in un certo processo (C)MOS.
Questa Norma viene pubblicata dal CEI nella sola lingua inglese in quanto particolarmente mirata a settori specialistici.
La presente Norma recepisce il testo originale inglese della Pubblicazione IEC.